熱門(mén)關(guān)鍵詞: 測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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產(chǎn)品分類(lèi)
Product CategoryOptikos相機(jī)測(cè)試系統(tǒng)Meridian Starfield采用緊湊型高精度設(shè)計(jì),適用于生產(chǎn)線末端相機(jī)測(cè)試,或在大批量生產(chǎn)中對(duì)相機(jī)組件進(jìn)行主動(dòng)校準(zhǔn)。
Optikos OpTest®光學(xué)測(cè)量與測(cè)試系統(tǒng)融合了光學(xué)和光機(jī)工程領(lǐng)域的新技術(shù)與創(chuàng)新結(jié)果,由Optikos的工程師專(zhuān)門(mén)為鏡頭測(cè)試設(shè)計(jì)的定制光學(xué)元件、機(jī)械部件和電子元件組成,進(jìn)而提供全面的鏡...
LensCheck™系列小口徑鏡頭MTF傳函儀,靈活擴(kuò)展的平臺(tái)能夠應(yīng)對(duì)更廣泛的測(cè)量 (例如:MTF、EFL、畸變等) 。
圓二色性測(cè)量系統(tǒng)使用垂直光路直接從標(biāo)準(zhǔn)孔板測(cè)量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉(zhuǎn)移到試管中進(jìn)行篩選,也不需要在分析過(guò)程中清洗試管
各向異性測(cè)量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計(jì)是一個(gè)重大的突破,光學(xué)各向異性測(cè)量技術(shù)更快、更準(zhǔn)確、收集更多的數(shù)據(jù)。
Strokes 偏振計(jì)在光學(xué)元件表征、光學(xué)系統(tǒng)光束輸出特性、天文學(xué)、光纖制造、光源和激光質(zhì)量控制等方面有著廣泛的應(yīng)用。
雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究人員提供了評(píng)估雙折射的能力。無(wú)論是生物材料還是工業(yè)材料。
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